[发明专利]距离测量系统及计算被测物反射率的方法、装置、设备有效

专利信息
申请号: 202110769034.7 申请日: 2021-07-07
公开(公告)号: CN113504542B 公开(公告)日: 2022-10-25
发明(设计)人: 马宣;王兆民;武万多;黄源浩;肖振中;李威 申请(专利权)人: 奥比中光科技集团股份有限公司
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01S7/48;G01N21/55
代理公司: 深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44578 代理人: 冷仔
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种距离测量系统及计算被测物反射率的方法、装置、设备,包括:发射器、采集器、以及处理电路;发射器经配置以朝向被测物发射信号光束;采集器包括像素单元以及读出电路,像素单元用于对被测物反射回的信号光束中的单个光子进行响应并输出光子信号,读出电路用于接收光子信号进行处理并输出直方图;处理电路与发射器以及采集器连接,用于接收直方图计算环境光子数均值以及信号光子数,并根据信号光子数计算被测物的反射率。本发明通过监测信号光子数来计算待测物体的反射率,提供了被测物体除3D点云数据外的第四维信息,即反射率,实现了4D测量,提供更为全面的信息来表述被测物体。
搜索关键词: 距离 测量 系统 计算 被测物 反射率 方法 装置 设备
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥比中光科技集团股份有限公司,未经奥比中光科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110769034.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top