[发明专利]光谱扫描共焦单次曝光数字全息测量系统及测量方法有效

专利信息
申请号: 202110772728.6 申请日: 2021-07-08
公开(公告)号: CN113418470B 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 刘丙才;钱晓彤;田爱玲;张英鸽;王红军;朱学亮;岳鑫 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 黄秦芳
地址: 710032 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明为一种光谱扫描共焦单次曝光数字全息测量系统及测量方法,其克服了现有技术中存在的针对待测物体的上、下表面及内部分层的微观结构,无法实现三维结构的快速测量,实现透明物体各分层界面微观形貌的高精度、非接触、同步三维形貌测量。本发明包括测量系统本体,测量系统本体包括依次设置的多光谱光源、显微物镜、透镜、分光镜一、聚焦色散透镜和待测物体,分光镜一后方设置有分光镜二,分光镜二前方依次设置有消色差显微物镜和光纤光谱仪,分光镜二后方设置有平面平晶,平面平晶前方依次设置有会聚透镜和滤波器,滤波器设置在平面平晶前表面反射光的会聚焦点处,滤波器前方设置有图像传感器,光纤光谱仪和图像传感器分别与计算机连接。
搜索关键词: 光谱 扫描 共焦单次 曝光 数字 全息 测量 系统 测量方法
【主权项】:
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