[发明专利]基于时序对齐预测的序列距离度量方法、存储介质及芯片有效

专利信息
申请号: 202110773058.X 申请日: 2021-07-08
公开(公告)号: CN113487027B 公开(公告)日: 2023-09-22
发明(设计)人: 苏冰;文继荣 申请(专利权)人: 中国人民大学
主分类号: G06N3/084 分类号: G06N3/084
代理公司: 北京兴智翔达知识产权代理有限公司 11768 代理人: 张玉梅
地址: 100872 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及机器学习技术领域,为基于时序对齐预测的序列距离度量方法、存储介质及芯片,包括步骤:先构建保序对齐预测(OAP)模型,对OAP模型进行自监督训练。保序对齐预测距离采用轻量级类似transformer的神经网络直接预测两个序列之间的最优对齐,因此在推理时只需要直接计算,不涉及优化。可以应用在序列分类和检索任务中,在获得和别的序列距离相当的性能同时,具有更快的推理速度。该方案提出的保序对齐预测OAP距离是可学习的序列距离,在推理中只需要直接计算,具有良好的可解释性;其次,通过设计产生近似真实对齐的序列增强方法,在此基础上,提出了自监督的OAP学习方法,不需要标注训练序列;此外,OAP距离可以方便地实现端到端的监督表征学习。
搜索关键词: 基于 时序 对齐 预测 序列 距离 度量 方法 存储 介质 芯片
【主权项】:
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