[发明专利]flash检测方法及其检测系统在审
| 申请号： | 202110773246.2 | 申请日： | 2021-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN113421606A | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 杨磊 | 申请（专利权）人： | 成都盛芯微科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610041 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种flash检测方法及其检测系统，涉及存储技术领域。该flash检测方法包括以下步骤：S1、检测芯片内部是否包括flash存储器：若否，则进入步骤S5；若是，则进入步骤S2；S2、读取所述flash存储器的存储内容；S3、将所述flash存储器内的存储内容通过预设的计算方法进行计算，并将存储内容计算结果与预存的校验值进行对比；S4、判断所述存储内容计算结果与所述校验值是否相同：若不相同，则进入步骤S5；若相同，则发送检测工作完成标志；S5、接收外部命令进行flash自测：若flash存储器检测出坏块，则标记坏块位置，发送坏块位置和检测工作完成标志；若flash存储器无坏块，则发送检测工作完成标志。本发明的检测方法简单、方便，且不受TAP限速。 | ||
| 搜索关键词： | flash 检测 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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