[发明专利]测量激光光轴瞄准偏差的装置、系统和方法在审

专利信息
申请号: 202110775182.X 申请日: 2021-07-07
公开(公告)号: CN113607383A 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 李梦庆;韦博;胡黎明;宋磊;武春风;李强;张贵清;彭小康;熊准;敬文魁;夏珝笙;陈欣;黄治强;戴文聪;赵闯 申请(专利权)人: 湖北航天技术研究院总体设计所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G02B26/08
代理公司: 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 代理人: 张凯
地址: 430040*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请涉及一种测量激光光轴瞄准偏差的装置、系统和方法,涉及高能激光技术领域,装置用于测量激光设备发出的激光,包括具有内腔室的盖体和设于内腔室中的光路调整机构及靶面组件;盖体包括一供激光进入内腔室的孔和与激光设备适配相连的连接部;光路调整机构用于接收进入内腔室的激光,调整接收的激光的光路,并输出调整光路后的激光;靶面组件包括可见光发射器、靶标和聚焦透镜,聚焦透镜用于汇聚输出的激光以在靶标上形成光斑,可见光发射器用于向靶标提供光源,其中,光斑和标记点可供计算激光光轴的瞄准偏差。本申请实施例能够连续测量激光光轴的瞄准偏差,还兼具测量空间小和测量范围广的特性。
搜索关键词: 测量 激光 光轴 瞄准 偏差 装置 系统 方法
【主权项】:
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