[发明专利]一种测距方法及ToF测距装置、存储介质在审

专利信息
申请号: 202110776542.8 申请日: 2021-07-09
公开(公告)号: CN113238215A 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 王抒昂;吴昊;李双双;田照银 申请(专利权)人: 武汉市聚芯微电子有限责任公司
主分类号: G01S13/32 分类号: G01S13/32
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 蒋雅洁;张颖玲
地址: 430270 湖北省武汉市东*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请实施例提供了一种测距方法及ToF测距装置、存储介质,包括:分别在第一频率和第二频率下对目标物体进行双频测量,得到第一频率下的第一深度测量值和第二频率下的第二深度测量值;将第一深度测量值和第二深度测量值作为一组深度测量值组,并从预设深度测量值组和模糊次数组映射关系中,查找一组深度测量值对应的一组模糊次数;一组模糊次数包括第一频率对应的第一模糊次数和第二频率对应的第二模糊次数;预设深度测量值组和模糊次数组映射关系中包括第一频率下和第二频率下的深度测量值组合与模糊次数组合之间的对应关系;根据第一深度测量值、第二深度测量值、第一频率、第二频率、第一模糊次数和第二模糊次数,确定目标物体的距离。
搜索关键词: 一种 测距 方法 tof 装置 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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