[发明专利]检查系统及方法有效
| 申请号： | 202110777657.9 | 申请日： | 2021-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN113281821B | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 王伟珍;刘必成;宗春光;孙尚民 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V11/00 | 分类号： | G01V11/00 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 颜镝 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种检查系统及方法。检查系统包括：辐射源（10）；探测器（30），被配置为探测所述辐射源（10）发出的辐射作用于被检的对象时的信号；和处理器（20），与所述辐射源（10）通讯连接，被配置为根据所述对象的类型，选择与所述类型对应的周期辐射组合，并在所述对象被扫描期间，使所述辐射源（10）以被选择的周期辐射组合向所述对象发出辐射，其中，所述周期辐射组合为所述辐射源（10）在每个扫描周期内输出的多个辐射脉冲的时序排列，所述多个辐射脉冲具有至少两种不同的辐射能量。本公开实施例能够改善适应性，并简化控制。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 系统 方法 | ||
【主权项】：
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