[发明专利]一种开发调试系统、待测设备和调试方法在审
| 申请号： | 202110780359.5 | 申请日： | 2021-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN113626310A | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 万瑞罡 | 申请（专利权）人： | 芯来智融半导体科技(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京新知远方知识产权代理事务所(普通合伙) 11397 | 代理人： | 马军芳;张艳 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请实施例中提供了一种开发调试系统、待测设备和调试方法，开发调试系统包括主机和待测设备，待测设备包括复位接口、调试模块和复位模块，主机通过复位接口与调试模块和复位模块连接；主机用于通过复位接口向调试模块和复位模块发送交互数据；调试模块用于判断交互数据是否正确，若正确，则依据交互数据，执行调试操作；复位模块用于在交互数据的通信速率小于待测设备的复位周期的情况下，依据交互数据，执行复位操作。通过对交互数据的通信速率的设置，能够区分调试信号和复位信号，进而能够实现调试接口与复位接口复用，不需要单独设立调试接口，解决了PCB空间和IC引脚占用过多的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 开发 调试 系统 设备 方法 | ||
【主权项】：
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