[发明专利]单光子级X射线空时成像方法有效
| 申请号： | 202110788144.8 | 申请日： | 2021-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN113542629B | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 金贤敏;李占明;周恒 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | H04N5/32 | 分类号： | H04N5/32;H04N5/217;A61B6/00 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人： | 王毓理;王锡麟 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种单光子级X射线空时成像方法，通过空时高分辨的面阵成像采集设备获取单光子X射线的到达位置信息和到达时间信息，经过对单个光子激发像素产生时间走离效应的校准实现对单个X射线光子的识别，再利用光子的泊松过程特性，从光子的到达时间信息反推目标物的强度信息，利用采集到稀疏光子满足的空时变量关联特性，通过基于泊松分布的图像重构算法，实现在若干光子的超弱X射线光源对目标物体的超分辨图像重构。本发明利用时间飞行探测强度重构技术实现单光子级超弱光空时成像，进而减少X射线对人体辐射剂量。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 射线 成像 方法 | ||
【主权项】：
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