[发明专利]一种高可靠性的终端结构及其制造方法在审
申请号: | 202110788246.X | 申请日: | 2021-07-13 |
公开(公告)号: | CN113594227A | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 张永利;王新强;王丕龙;刘文 | 申请(专利权)人: | 青岛佳恩半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/78;H01L29/739;H01L21/336;H01L21/331 |
代理公司: | 北京天盾知识产权代理有限公司 11421 | 代理人: | 郑艳春 |
地址: | 266100 山东省青岛市高*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明提供一种高可靠性的终端结构及其制造方法,涉及终端结构技术领域。衬底下方设置有漏极、上方设置有n型缓冲区,n型缓冲区内部设置有规律排布的p型阱,p型阱上方设置有栅氧氧化层和多晶层,BODY I区P阱和BODY II区P阱内置n+型源级和p+型短路区,源级金属电极设置在BODY I区P阱和BODY II区P阱上方,栅极金属电极设置在BODY II区P阱和RING I区P阱上方,RING II区浮空金属电极设置在RING II区上方,终端末端金属电极设置在终端末端P阱上方。本发明在漂移区内设置BODY I区、BODY II区、RING I区和RING II区,相互分离,有效降低高温反偏漏电。 | ||
搜索关键词: | 一种 可靠性 终端 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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