[发明专利]一种基于32位MCU芯片测试的智能探针卡在审
| 申请号： | 202110799908.3 | 申请日： | 2021-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN113504397A | 公开（公告）日： | 2021-10-15 |
| 发明（设计）人： | 彭勇;朱娟娟;刘天阳 | 申请（专利权）人： | 合肥市华达半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙) 34158 | 代理人： | 刘跃 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市高新区望江西路86*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于32位MCU芯片测试的智能探针卡，所述的微型电磁铁从上至下固设于基板内部中端，所述的继电器固设于基板前端下侧，所述的视觉检测器固设于基板前端左右两侧，所述的探针从上至下滑动设于基板内部左右两侧，所述的挡板固设于探针外壁，所述的弹簧固设于挡板侧壁，所述的绝缘套固设于探针内侧端口，所述的铁芯固设于绝缘套内部，首先探针能对芯片进行信号检测，其次视觉检测器能够扫描所需检测的芯片型号，最后根据检测结果利于控制微型电磁铁和继电器，使得铁芯带动绝缘套联动探针和挡板克服弹簧的回弹性进行滑动，通过上述，能够根据所需检测的芯片型号来匹配相应位置探针，满足多个型号芯片的测试，同时也达到智能调控目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 32 mcu 芯片 测试 智能 探针 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥市华达半导体有限公司，未经合肥市华达半导体有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110799908.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
