[发明专利]基于深度学习的集成电路测试异常分析系统及其方法在审
| 申请号： | 202110801261.3 | 申请日： | 2021-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN113687209A | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 余琨;张志勇;祁建华;吴一;吴勇佳;牛勇 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F16/2458;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人： | 黄一磊 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于深度学习的集成电路测试异常分析系统及其方法，经过对测试过程中累积的历史测试数据进行深度学习反复训练，可根据学习与训练情况自动优化参数设置，并通过实时的测试数据时进行测试异常预警预判及早干预，避免测试异常发生，对发生的异常自动识别测试异常解决方法予以提示，减少不同技术员处理测试异常的时间，提高整体机台有效利用率，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 深度 学习 集成电路 测试 异常 分析 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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