[发明专利]一种基于Map图的不良根因分析方法在审
| 申请号： | 202110812144.7 | 申请日： | 2021-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN113537356A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 谢箭;赵文政;刘林平 | 申请（专利权）人： | 上海喆塔信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62 |
| 代理公司： | 合肥左心专利代理事务所(普通合伙) 34152 | 代理人： | 张灿秋 |
| 地址： | 200000 上海市浦东新区自由贸*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于Map图的不良根因分析方法，涉及OLED、显示器、面板及半导体制造业技术领域。本发明针对良率损失的根因分析，构建了一种基于信息融合的问题参数快速自动定位方法和因子水平自动划分方法，解决了传统分析方法自动化程度低，数据信息利用率低，问题定位精度低的问题。本发明对数据进行了标签化和分组，提高了数据的针对性，同时设计了不同的规则组合，融合了不良率数据和参数数据各方面的信息，综合而全面的考虑两者之间的关系，使得问题参数的定位分析更加准确，高效。同时，为了确定问题参数的异常波动范围，提出了基于聚类的参数水平划分方法，解决了现有划分方法速度慢精度低，不利于大数据分析的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 map 不良 分析 方法 | ||
【主权项】：
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