[发明专利]一种基于曲面屏的相位偏折测量方法、系统及终端有效

专利信息
申请号: 202110812317.5 申请日: 2021-07-19
公开(公告)号: CN113654765B 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 宋展;韩浩 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01M11/04
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请适用于光学测量技术领域,提供一种基于曲面屏的相位偏折测量方法、系统及终端,其中方法包括:在所述曲面显示屏上对设定数量的相移条纹图进行依次显示,控制图像采集器对待测物体进行图像采集,分别得到与每一相移条纹图对应的第一虚像图像,基于曲面显示屏与图像采集器之间的相对位姿关系和第一虚像图像,采用相位偏折术对待测物体进行三维面型重建。该方案能够实现对曲率较大的物体表面完整相位信息的获取,提升高反射物体三维形貌的重建效果。
搜索关键词: 一种 基于 曲面 相位 测量方法 系统 终端
【主权项】:
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