[发明专利]测试流程的配置方法、装置、存储介质及设备有效
| 申请号： | 202110813372.6 | 申请日： | 2021-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN113535223B | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 聂爱;徐莹 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F8/71 | 分类号： | G06F8/71;G06F8/35;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 | 代理人： | 李俊红 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开是关于一种测试流程的配置方法、装置、存储介质及设备，所述测试流程为在半导体产品测试中区别于主测试流程的测试流程，所述测试流程的配置方法包括：确定半导体产品的至少一个测试项目；获取所述测试项目相应的第一测试模板，所述第一测试模板中包括预设测试参数；显示所述预设测试参数；接收根据所述预设测试参数调整后的测试参数；根据调整后的测试参数，配置所述测试项目的当前测试参数；根据所述测试项目的当前测试参数，形成半导体产品的测试流程。本公开实施例提供的技术方案能够根据用户输入的测试项目自动调取相关的预设测试参数，减少用户操作，降低误输入频率，效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 流程 配置 方法 装置 存储 介质 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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