[发明专利]灰度测试方法、装置、电子设备与存储介质在审
| 申请号： | 202110813719.7 | 申请日： | 2021-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN113468064A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 黄子栗;李博;王佳 | 申请（专利权）人： | 京东科技控股股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王宇杨 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供一种灰度测试方法、装置、电子设备与存储介质，方法包括：在灰度测试中，业务系统的数据访问层中的第一组件根据所接收的数据访问请求与配置信息，确定所要访问的数据库为沙箱数据库或为正式数据库；其中，第一组件是根据基类得到的，基类用于对数据库进行包括增加操作、删除操作、修改操作以及查看操作在内的操作；在所要访问的数据库为沙箱数据库的情况下，第一组件根据数据访问请求对沙箱数据库进行数据访问操作。本公开通过对数据库中各个表的类继承的基类做少量的修改，可在业务系统的数据访问层中确定数据访问操作所要访问的数据库，进而实现数据访问操作，与现有技术相比，开发工作量和后续的维护工作量有明显降低。 | ||
| 搜索关键词： | 灰度 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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