[发明专利]芯片验证方法、系统、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110813940.2 | 申请日： | 2021-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN113705140A | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 蔡文倩;张勇;温长清 | 申请（专利权）人： | 深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/34 | 分类号： | G06F30/34 |
| 代理公司： | 深圳国新南方知识产权代理有限公司 44374 | 代理人： | 周雷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种芯片验证方法、系统、设备及存储介质，该方法包括：获取目标芯片所有被测试设计的验证参数；对于当前被测试设计，利用当前被测试设计的验证参数更新脚本；基于验证平台顶层和脚本，对当前被测试设计进行验证，并将下一被测试设计重新作为当前被测试设计，重复上述步骤，直到对所有被测试设计完成验证，以对目标芯片的设计进行验证。本发明实施例在目标芯片有多个被测试设计进行功能测试时，只需要更改脚本文件中的验证参数即可，避免了现有技术中利用人工进行端口连接这样重复性的劳动，从而节约了芯片验证时间，提高了芯片验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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