[发明专利]基于IGBT模块焊点退化状态的寿命预测方法及系统

摘要

本申请公开了一种基于IGBT模块焊点退化状态的寿命预测方法及系统，该方法包括：启动对目标IGBT模块的焊料层的超声波扫描；根据超声波扫描结果确定焊料层各焊点的空洞情况；根据空洞情况确定目标IGBT模块的焊料层对应的等级；在预设的等级寿命数据库中查询获取与等级对应的寿命标准值，并作为目标IGBT模块的寿命预测值；等级寿命数据库基于对样本IGBT模块进行加速老化功率模块循环测试的结果而生成，存储有各等级的焊料层对应的寿命标准值。本申请采用简便易操作的超声波检测技术对焊料层的空洞问题进行检测，进而可高效、准确地预测出IGBT模块的剩余寿命，帮助提高设备运维的效率与合理性，有效提高产品经济效益。