[发明专利]一种基于匹配校正光频域干涉的分布式双向偏振测量装置有效

专利信息
申请号: 202110817517.X 申请日: 2021-07-20
公开(公告)号: CN113804298B 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 温坤华;李培炯;黄明阳;喻张俊;杨军;徐鹏柏;王云才;秦玉文 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: G01J4/00 分类号: G01J4/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510009 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种基于匹配校正光频域干涉的分布式双向偏振测量装置,属于光纤测量领域。该装置包括可调谐激光源、光频域干涉反射测量模块、光频域干涉透射测量模块、待测器件模块、第一辅助干涉仪模块、第二辅助干涉仪模块、信号处理模块;激光源输出的连续光作为问询光注入待测器件模块,其中的瑞利散射光返回注入光频域干涉反射测量模块中,而前向传输光和偏振耦合光则注入光频域干涉透射测量模块中,经过第一辅助干涉仪、第二辅助干涉仪匹配校正扫频非线性后,分别获得光纤器件的分布式瑞利散射谱、分布式偏振串扰谱。该装置利用多个具有不同光程差的辅助干涉仪匹配校正扫频非线性,提升了系统的空间分辨率,快速获得光纤器件的透反射信息。
搜索关键词: 一种 基于 匹配 校正 光频域 干涉 分布式 双向 偏振 测量 装置
【主权项】:
暂无信息
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