[发明专利]集中式分光测试装置有效
| 申请号： | 202110821291.0 | 申请日： | 2021-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN113634501B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 段雄斌;张利利;曹亮;何选民 | 申请（专利权）人： | 深圳市标谱半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/342;B07C5/38;B65G45/12 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 徐汉华 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区航城街道三围社区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种集中式分光测试装置，包括多台分光机和集中收料机构；集中收料机构包括带传送线，以及存料筒；带传送线包括传送带、从动轮、主动轮和旋转驱动器，传送带上形成有送料槽，各分光机排送同一类别的LED芯片的下料管与送料槽相连通。本申请，通过设置带传送线，并在带传送线的传送带上形成送料槽，将各分光机的排送同一类别的LED芯片的下料管与送料槽相连通，以使多个分光机将分选的同一类别的LED芯片排送到送料槽，以被传送带传送至存料筒存储，从而可以实现多台分光机分选的同一类别的LED芯片的集中收取，从而可以减少人工，降低人工成本，并且在收取分选的LED芯片时，分光机无需停止，提升效率。 | ||
| 搜索关键词： | 集中 分光 测试 装置 | ||
【主权项】：
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