[发明专利]基于磁滞效应的无磁场点磁纳米粒子成像方法有效
| 申请号： | 202110824615.6 | 申请日： | 2021-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN113558597B | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 田捷;李怡濛;惠辉;张鹏;杨鑫 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | A61B5/0515 | 分类号： | A61B5/0515 |
| 代理公司： | 北京天汇航智知识产权代理事务所(普通合伙) 11987 | 代理人： | 黄川;史继颖 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于磁滞效应的无磁场点磁纳米粒子成像方法，包括以下步骤：获取超顺磁纳米粒子(Superparamagnetic Iron Oxide Nanoparticles，SPIO)的磁滞回线模型；基于正弦激励磁场和SPIO的磁滞回线模型，计算得到SPIO的点扩散函数(Point Spread Function，PSF)；基于无磁场点(Field Free Point，FFP)移动轨迹与电压信号，获取无磁场点磁纳米粒子成像(Field Free Point‑Magnetic Particle Imaging，FFP‑MPI)的原始重建图像；将原始图像对已考虑磁滞效应的PSF解卷积，获得最终重建图像。该方法减少了大粒径SPIO的磁滞效应对图像重建产生的伪影与相位误差，弥补了传统重建方法忽略磁滞效应进行重建的不足，极大提高重建速度与分辨率，拓宽了SPIO的应用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 效应 磁场 纳米 粒子 成像 方法 | ||
【主权项】：
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