[发明专利]紫外线测量方法、计算设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110827037.1 | 申请日： | 2021-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN113655013A | 公开（公告）日： | 2021-11-16 |
| 发明（设计）人： | 常保延;沈凯;熊东;张连峰;周钰 | 申请（专利权）人： | 无锡华兆泓光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/33 | 分类号： | G01N21/33 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 梁立耀 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡市无锡国家高新技术*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请适用于测量技术领域，提供一种紫外线测量方法、计算设备及存储介质，所述方法包括：测量水溶液中的化学曝光剂受紫外线照射之前的第一吸光度；在紫外发光二极管的发光面朝向所述水溶液时，控制所述紫外发光二极管发出紫外线照射所述水溶液；测量所述化学曝光剂受所述紫外发光二极管发出的紫外线照射之后的第二吸光度；根据所述第一吸光度和所述第二吸光度，获取所述紫外发光二极管的紫外线输出量。本申请的实施例能利用化学曝光剂测量紫外发光二极管的紫外线输出量，无需进行上级朔源。 | ||
| 搜索关键词： | 紫外线 测量方法 计算 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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