[发明专利]一种单调频干涉的转静子轴向间隙高速动态测量方法在审

专利信息
申请号: 202110834139.6 申请日: 2021-07-20
公开(公告)号: CN113776445A 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 陈伟民;刘浩;邵斌;张伟;章鹏 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 杨柳岸
地址: 400044 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及一种单调频干涉的转静子轴向间隙高速动态测量方法,属于转静子轴向间隙测量领域,包括以下步骤:S1:由转子轴向运动造成的FSI调频干涉信号;S2:对调频干涉信号进行滤波归一化处理得到IFSI(t);S3:利用希尔伯特变换从滤波归一化处理后的调频干涉信号中计算出增量相位;S4:利用增量相位与构造变量Lc构建虚拟轴向位移;S5:获取一系列虚拟轴向位移是否准确的功能函数值,当功能函数V取得最小值时,认为当前构造变量Lc‑optimal与虚拟轴向位移均最接近真实值;S6:利用最优化构造变量Lc‑optimal,获取高精度动态轴向间隙测量结果。
搜索关键词: 一种 调频 干涉 转静子 轴向 间隙 高速 动态 测量方法
【主权项】:
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