[发明专利]一种基于负泊松比结构的测量方法及系统有效

专利信息
申请号: 202110837983.4 申请日: 2021-07-23
公开(公告)号: CN113551818B 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 温庆国;张征凯;李鹏举 申请(专利权)人: 西安建筑科技大学
主分类号: G01L1/24 分类号: G01L1/24
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 高博
地址: 710055 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于负泊松比结构的测量方法及系统,将光源、负泊松比结构和光电池依次平行设置,将负泊松比结构作为基底与被测物接触,当被测物产生变形后对负泊松比结构施加力的作用,负泊松比结构产生弹性变形,光源发出的光线经弹性变形后的负泊松比结构照射在光电池上,通过数据采集设备采集光电池的电信号,利用电信号与被测量之间的关系获取被测量大小。本发明可选结构灵活多样,整体设计简便;组成部分相互独立,没有物理连接,能有效减少干扰和噪声的传递,测量精度较高。
搜索关键词: 一种 基于 泊松比 结构 测量方法 系统
【主权项】:
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