[发明专利]一种半导体硅晶圆制造加工系统及加工工艺有效

专利信息
申请号: 202110840199.9 申请日: 2021-07-24
公开(公告)号: CN113568274B 公开(公告)日: 2023-09-29
发明(设计)人: 张金裕 申请(专利权)人: 嘉兴市耐思威精密机械有限公司
主分类号: G03F7/16 分类号: G03F7/16;H01L21/67;F16F15/067
代理公司: 深圳立专知识产权代理有限公司 441000 代理人: 单天禹
地址: 314011 浙江省嘉兴*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种半导体硅晶圆制造加工系统及加工工艺,通过设有的工作台、支撑板、固定装置和匀胶装置协同完成晶圆制造加工时的涂胶工作。本发明提供的一种半导体硅晶圆制造加工系统及加工工艺,可以解决现有晶圆制造加工系统对晶圆表面涂抹光刻胶时,通常现有晶圆制造加工系统直接对光刻胶进行涂胶处理,没有对涂胶后的光刻胶进行涂匀处理,使得晶圆表面的光刻胶涂抹不均匀,导致晶圆表面的光刻胶存在突起、微纹和划痕以及现有晶圆制造加工系统直接对光刻胶进行涂匀时,难以将堆积的光刻胶及时摊开、涂匀,使得光刻胶涂匀过程时间较长,降低晶圆制造效率等问题。
搜索关键词: 一种 半导体 硅晶圆 制造 加工 系统 工艺
【主权项】:
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