[发明专利]一种基于机器学习的光模块损坏检测方法及系统在审
申请号: | 202110840858.9 | 申请日: | 2021-07-26 |
公开(公告)号: | CN113468823A | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | 刘静 | 申请(专利权)人: | 中兴飞流信息科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/27 | 分类号: | G06F30/27;G06K9/62;G06N20/00;G06F111/08 |
代理公司: | 北京卫智易创专利代理事务所(普通合伙) 16015 | 代理人: | 朱春野 |
地址: | 210012 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种基于机器学习的光模块损坏检测方法及系统,通过光模块的历史性能数据检测结果生成一个光模块检测模型,利用该光模块检测模型在预测坏光模块性能数据上有一定的作用,可作为辅助手段帮助排查坏光模块。同时,为了保证光模块检测模型的泛化能力,还可以在生成光模块检测模型后,利用大量真实坏光模块数据以及更多特征的进行挖掘探索。本发明通过对离线的正常及损坏光模块历史性能数据分析,不仅可以对实时光模块性能数据进行检测,还可以通过机器学习算法实时监测光模块性能情况,并预测光模块是否存在损坏趋势。本发明基于机器学习的光模块检测来代替人工检测光模块,大大提高了检测准确性并降低了时间及人力的耗费。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 机器 学习 模块 损坏 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
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