[发明专利]一种基于机器学习的光模块损坏检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 202110840858.9 申请日: 2021-07-26
公开(公告)号: CN113468823A 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 刘静 申请(专利权)人: 中兴飞流信息科技有限公司
主分类号: G06F30/27 分类号: G06F30/27;G06K9/62;G06N20/00;G06F111/08
代理公司: 北京卫智易创专利代理事务所(普通合伙) 16015 代理人: 朱春野
地址: 210012 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种基于机器学习的光模块损坏检测方法及系统,通过光模块的历史性能数据检测结果生成一个光模块检测模型,利用该光模块检测模型在预测坏光模块性能数据上有一定的作用,可作为辅助手段帮助排查坏光模块。同时,为了保证光模块检测模型的泛化能力,还可以在生成光模块检测模型后,利用大量真实坏光模块数据以及更多特征的进行挖掘探索。本发明通过对离线的正常及损坏光模块历史性能数据分析,不仅可以对实时光模块性能数据进行检测,还可以通过机器学习算法实时监测光模块性能情况,并预测光模块是否存在损坏趋势。本发明基于机器学习的光模块检测来代替人工检测光模块,大大提高了检测准确性并降低了时间及人力的耗费。
搜索关键词: 一种 基于 机器 学习 模块 损坏 检测 方法 系统
【主权项】:
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