[发明专利]一种基于逐层减薄的金属箔带内应力分布测量方法在审
| 申请号： | 202110847128.1 | 申请日： | 2021-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN113533673A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 张青科;宋振纶;杨丽景;胡方勤;郑必长;姜建军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
| 主分类号： | G01N33/20 | 分类号： | G01N33/20;G01N1/28 |
| 代理公司： | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人： | 王锋 |
| 地址： | 315201 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于逐层减薄的金属箔带内应力分布测量方法，包括：通过用化学方法从大面积金属箔带上切下试样小片，对其进行单面均匀蚀刻，刻蚀多次，每次蚀刻去除相同厚度，测量蚀刻后试样小片沿轧制方向的弯曲变形和曲率半径，依次计算其从表面到内部的内应力，从而获得整个试样厚度范围内的内应力分布。本发明提供的金属箔带内应力分布测量方法简单、低成本、快捷有效，不需要配备特殊设备和工具，采用常用表征手段就可以得出金属箔带整个厚度范围的内应力分布，适用于厚度在50μm以下的多种纯金属及合金箔带，可以为金属箔带的生产工艺优化提供有效的参考数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 逐层减薄 金属 内应力 分布 测量方法 | ||
【主权项】：
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