[发明专利]用例生成方法及装置、测试方法、可测试性设计方法有效
| 申请号： | 202110852705.6 | 申请日： | 2021-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN113609804B | 公开（公告）日： | 2023-10-20 |
| 发明（设计）人： | 高维;李晨;肖珂 | 申请（专利权）人： | 西安芯海微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3315 | 分类号： | G06F30/3315;G06F30/327;G06F30/367;G06F11/36 |
| 代理公司： | 深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙) 44351 | 代理人： | 苗燕 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市高新区*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供一种用例生成方法及装置、测试方法、可测试性设计方法，涉及芯片测试技术领域。该用例生成方法包括：通过预设约束文件对低速模块进行综合，以得到综合后的低速模块；基于插入扫描链后的编译工具和所述综合后的低速模块生成SPF文件；获取所述综合后的低速模块中捕获模式的目标频率；基于所述目标频率修改所述SPF文件中的参数，并基于修改后的SPF文件生成测试用例。该方法在预设约束文件中未定义扫描时钟，并通过修改SPF文件中的参数，从而可以降低扫描测试的捕获模式的频率，可以使得低速模块和高速模块可以一起进行测试。进而可以减小综合低速模块所得的面积，从而减少测试成本，还可以提高测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 生成 方法 装置 测试 设计 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安芯海微电子科技有限公司，未经西安芯海微电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110852705.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
