[发明专利]大视场高分辨光场显微系统校正方法和装置有效

专利信息
申请号: 202110854589.1 申请日: 2021-07-28
公开(公告)号: CN113327211B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 戴琼海;吴嘉敏;何继军 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/80
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张梦瑶
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提出了一种大视场高分辨光场显微系统校正方法和装置,涉及计算机图形学和计算机视觉技术领域,其中,该方法包括:采集标定板多个轴向位置处的光场图像;采集未加入标定板的白光场图像;采集噪声图像;对白光场图像和噪声图像进行处理,得到光场解码参数;使用光场解码参数对光场图像进行解码,得到4维光场数据;使用多个轴向位置处的光场图像对应的4维光场数据校正成像系统畸变。采用上述方案的本申请利用不同轴向位置标定板光场图像实现大视场光场校正,缓解了大视场光场存在成像畸变影响,改善了大视场高分辨光场显微三维重建结果。
搜索关键词: 视场 分辨 显微 系统 校正 方法 装置
【主权项】:
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