[发明专利]一种电镀件表面膜层的测厚方法在审
| 申请号： | 202110855969.7 | 申请日： | 2021-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN113686273A | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 姚鑫剑;颜飞;宋玉龙 | 申请（专利权）人： | 临海市伟星化学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02;G01N23/2251;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 北京市中联创和知识产权代理有限公司 11364 | 代理人： | 高艳艳;王一民 |
| 地址： | 317000 *** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种电镀件表面膜层的测厚方法，包括步骤S1，前处理阶段：在待测电镀件A上设置有色边界层后，将其制备成金相试样C；S2，测量阶段：通过显微镜观察和测量所述金相试样C中有色边界层与电镀层之间的距离d，所述距离d即为所述待测电镀件A表面膜层的厚度，本发明所述的电镀件表面膜层的测厚方法具有操作简单、成本低、适用范围广、检测结果精确、成功率高，同时，还可以显示膜层厚度的分布情况的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电镀 表面 方法 | ||
【主权项】：
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