[发明专利]一种SiC单晶片抛光方法有效

专利信息
申请号: 202110870849.4 申请日: 2021-07-30
公开(公告)号: CN113524025B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 苏建修;王占奎;张亚奇;胡楠;李海波;李勇峰;薛明普;陈锡渠 申请(专利权)人: 河南科技学院
主分类号: B24B37/24 分类号: B24B37/24;B24B37/10;B24B37/34
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 孙玲
地址: 453000 河南省新*** 国省代码: 河南;41
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种SiC单晶片抛光方法,采用含有还原剂、氧化剂、催化剂等化学物质的抛光垫,在抛光压力的作用下,SiC单晶片与抛光垫表面的凸峰相接触,产生摩擦及摩擦热,还原剂释放出氧气,在催化剂及摩擦热等的作用下,氧气与SiC单晶片表面发生氧化反应,在表面生成一层SiO2层,然后由具有自退让功能的磨粒去除;此过程交替进行,实现SiC单晶片表面全局被平坦化。由于采用具有自退让功能的磨粒,磨粒能够随抛光压力的变化而上下退让,当磨粒尺寸不一致或磨粒的凸刃高度不同时,通过磨粒的自退让性,使得加工中磨粒的凸刃高度随压力的变化而变化,控制加工中每个磨粒的切深。抛光后SiC单晶片表面质量高,成本低,废物排放低。
搜索关键词: 一种 sic 晶片 抛光 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河南科技学院,未经河南科技学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110870849.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top