[发明专利]一种基于VAE的人脑损伤检测方法及装置在审

专利信息
申请号: 202110882090.1 申请日: 2021-08-02
公开(公告)号: CN113658119A 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 朱州 申请(专利权)人: 上海影谱科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/10;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 北京万思博知识产权代理有限公司 11694 代理人: 冀婷
地址: 201718 上海市青浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请公开了一种基于VAE的人脑损伤检测方法及装置。所述方法包括:建立VAE模型,所述VAE模型依次包括三个连续的卷积层、一个批处理归一化层、一个整流线性单元激活函数、两个完全连接层、以及反卷积层;对所述VAE模型进行预训练,得到RVAE模型;重新训练VAE和RVAE模型;对VAE和RVAE模型进行迁移学习实验;计算重建图像与原始图像的绝对误差图,对损伤部位进行分割并滤波;用滤波后的病变误差图绘制ROC曲线,并根据所述ROC曲线计算AUC;选择一个β值来防止RVAE在验证数据集中重建病变。所述装置包括VAE模型建立模块、预训练模块、训练模块、迁移学习模块、第一计算模块、第二计算模块和选择模块。
搜索关键词: 一种 基于 vae 人脑 损伤 检测 方法 装置
【主权项】:
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