[发明专利]测温设备的校正方法和装置在审
申请号: | 202110882327.6 | 申请日: | 2021-08-02 |
公开(公告)号: | CN113588110A | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 陈光胜 | 申请(专利权)人: | 上海东软载波微电子有限公司 |
主分类号: | G01K7/16 | 分类号: | G01K7/16 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 宋兴;臧建明 |
地址: | 200235 上海市徐汇区龙*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种测温设备的校正方法和装置,该方法包括:获取热电堆在第一校正温度的第一电压值以及在第二校正温度的第二电压值且获取热敏电阻在第一校正温度的第一电阻值以及在第二校正温度的第二电阻值;根据第一电阻值以及第二电阻值分别确定热敏电阻的第一灵敏度以及第二灵敏度;根据第一电压值、第二电压值、第一电阻值、第二电阻值、第一灵敏度、第二灵敏度确定热电堆的第三灵敏度以及热敏电阻在环境温度下的第三电阻值;根据第三灵敏度以及第三电阻值校正测温设备。本发明无需将测温设备置于控温设备静置,缩短了测温设备的校正时长且消除了控温设备所设置的环境温度与实际环境温度的差异带来的误差,提高了测温设备的校正准确性。 | ||
搜索关键词: | 测温 设备 校正 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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