[发明专利]一种基于辐照的岩石结构性能测试方法及测试系统在审
申请号: | 202110883160.5 | 申请日: | 2021-08-02 |
公开(公告)号: | CN113533016A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 于洪丹;陈卫忠 | 申请(专利权)人: | 中国科学院武汉岩土力学研究所 |
主分类号: | G01N1/44 | 分类号: | G01N1/44;G01N1/36;G01N23/20;G01N23/20008;G01N23/2251;G01N23/2202;G01N23/202;G01N23/201;G01N3/08;G01N7/04;G01N33/24 |
代理公司: | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人: | 张晓冬 |
地址: | 430071 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于辐照的岩石结构性能测试方法,所述方法用于对岩石试样进行辐照并测试,所述方法包括:将所述岩石试样进行密封;对密封的所述岩石试样进行辐照;所述对密封的所述岩石试样进行辐照包括:将密封的所述岩石试样放置于室温的伽马辐射环境中进行辐照;对辐照完成后的所述岩石试样进行结构性能测试;所述对辐照完成后的所述岩石试样进行结构性能测试包括:对辐照完成后的所述岩石试样进行试验测试,获取用于表示所述岩石试样内部结构变化的测试数据,依据所述测试数据分析得到用于表示所述岩石试样内部结构变化的结构参数。可广泛应用于深部岩体综合检测技术领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 辐照 岩石 结构 性能 测试 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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