[发明专利]单色仪波长误差校准装置及校准方法在审

专利信息
申请号: 202110883770.5 申请日: 2021-08-03
公开(公告)号: CN115704712A 公开(公告)日: 2023-02-17
发明(设计)人: 支辛蕾;翟思婷;王加朋;李世伟 申请(专利权)人: 北京振兴计量测试研究所
主分类号: G01J3/12 分类号: G01J3/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100074 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种单色仪波长误差校准装置及校准方法,该单色仪波长误差校准装置包括超连续谱激光器、单色仪、干涉组件、探测器、成像单元和控制处理器,单色仪与激光器连接,干涉组件设置在单色仪的正弦驱动机构上,干涉组件用于对单色仪输出的单色光进行干涉以产生干涉条纹,探测器用于采集干涉条纹并显示在成像单元上,控制处理器与单色仪连接,控制处理器用于驱动单色仪的正弦驱动机构反复移动并根据成像单元上的干涉条纹的变化对单色仪的波长误差进行校准。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中单色仪波长校准误差较大且不能进行整个波段校准的技术问题。
搜索关键词: 单色仪 波长 误差 校准 装置 方法
【主权项】:
暂无信息
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