[发明专利]一种智能设备ADC芯片瞬态干扰耦合叠加试验系统及方法在审
| 申请号： | 202110901345.4 | 申请日： | 2021-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN113740704A | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 赵明敏;杨志超;林珊珊;赵鹏;鞠勇 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院有限公司;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 刘爱丽 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种智能设备ADC芯片瞬态干扰耦合叠加试验系统及方法。其中，该方法包括搭建待测试的变电站智能设备ADC芯片的测试环境；为试验所需的各个设备上电，使得变电站智能设备ADC芯片正常工作；向变电站智能设备ADC芯片注入或者耦合不同等级的瞬态电磁脉冲；以及根据获取到的变电站智能设备ADC芯片的监测数据，判断变电站智能设备ADC芯片受到的电磁干扰程度，其中监测数据为变电站智能设备ADC芯片的工作波形数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 智能 设备 adc 芯片 瞬态 干扰 耦合 叠加 试验 系统 方法 | ||
【主权项】：
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