[发明专利]一种相控阵天线快速校准测试系统及方法有效
| 申请号： | 202110902101.8 | 申请日： | 2021-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN113740620B | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 马瑞;刘国栋;杨绰;苏峰;程永生;王晓飞;宋蔚阳;涂建;孙向春;王遂学;张强;霍小宁;高一唱;司文文;何龙威;关巍巍;李骥;王伟伟;修展;任昌健;耿健;李高斯;宋明;曹兢;薛润东 | 申请（专利权）人： | 北京航天长征飞行器研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;H04B17/12;H01Q3/36 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 程何 |
| 地址： | 100076 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种相控阵天线快速校准测试系统及方法，属于天线测量技术领域，涉及一种近场测试系统，尤其涉及相控阵天线的快速校准和方向图测试。本发明包括上位机模块、交换机模块、同步控制模块、信号源模块、功放模块、低噪放模块、待测相控阵天线、电源模块、校准控制模块、扫描模块、信号调理模块、矢网模，基于脉冲同步机制，采用实时解算的方式缩短波控码的加载延迟，可通过2轮扫描完成相控阵天线在多种频率下的通道校准，通过1轮扫描覆盖相控阵天线在多种频率和指向角的组合下的方向图测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相控阵 天线 快速 校准 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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