[发明专利]一种多插指埋栅结构的增强型高压HEMT器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110906419.3 申请日: 2021-08-09
公开(公告)号: CN113594232A 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 尹以安;连梦小;毛明华 申请(专利权)人: 迪优未来科技(清远)有限公司;华南师大(清远)科技创新研究院有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/778;H01L21/335;H01L29/423
代理公司: 北京清控智云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11919 代理人: 仵乐娟
地址: 511540 广东省清远市高新技术产业开发区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种多插指埋栅结构的增强型高压HEMT器件及其制备方法,包括依次层叠的应力释放层、高阻缓冲层、沟道层、插入层和势垒层;源极和漏极位于势垒层两端,与所述插入层接触;栅极位于势垒层上;栅电介质层,位于栅极和势垒层之间;包含插指埋栅单元的多插指埋栅结构,沿势垒层表面延伸至势垒层中一定深度,沿源极指向漏极的方向上,所述多插指埋栅结构与势垒层之间构成多个依次排列的PN结。本发明采用离子注入工艺形成的多插指埋栅结构的引入,大大提高了器件的耐压特性,同时减少了栅极的泄露电流,提升了饱和漏极电流的上限,在获得增强型器件的同时增大输出电流。
搜索关键词: 一种 多插指埋栅 结构 增强 高压 hemt 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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