[发明专利]一种粉体颗粒表面粗糙度的检测方法及系统在审
| 申请号： | 202110913782.8 | 申请日： | 2021-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN113776469A | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 姚武;廖刚 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G01B15/08 | 分类号： | G01B15/08;G01N23/2251;G01N23/203 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 翁惠瑜 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种粉体颗粒表面粗糙度的检测方法，包括：1)获取粉体颗粒表面的形貌图像；2)对形貌图像进行三维重建，获得三维形貌模型；3)计算三维形貌模型的分形维数，利用分形维数表征粉体颗粒表面粗糙度。与现有技术相比，本发明可以全面地定量描述颗粒表面的粗糙度，计算不同尺度下分形维数来表征颗粒表面粗糙度，适用范围广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 表面 粗糙 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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