[发明专利]一种光纤光栅反射率测量方法及装置在审
| 申请号： | 202110914520.3 | 申请日： | 2021-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN113640252A | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 冷卓燕;古杨;戴立伟;张慧;黄中亚;胡国勇;闫大鹏 | 申请（专利权）人： | 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 黄灵飞 |
| 地址： | 430000 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光纤光栅反射率测量方法及装置。该方法包括：首先，通过光谱分析仪采集测试光的全透射光谱数据，将全透射光谱数据设定为定标光谱数据；其次，将被测光纤光栅与环形器相连，以使测试光经过环形器后射到被测光纤光栅上，再经光纤光栅反射后形成反射光；然后，将光谱分析仪与环形器相连，以使光谱分析仪采集经环形器射出的反射光；最后，通过光谱分析仪获取反射光的光谱数据，并基于定标光谱数据，获得被测光纤光栅的反射率。本发明可以减小宽带光源光谱及光功率抖动性造成的测量误差，消除了光谱仪自身噪声带来的测量误差，简化了测量方法，提高了测量结果精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光纤 光栅 反射率 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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