[发明专利]基于多通道激励和检测的三维磁粒子成像系统及方法有效
申请号: | 202110915066.3 | 申请日: | 2021-08-10 |
公开(公告)号: | CN113625208B | 公开(公告)日: | 2022-08-12 |
发明(设计)人: | 田捷;刘晏君;惠辉;张浩然 | 申请(专利权)人: | 中国科学院自动化研究所 |
主分类号: | A61B5/0515 | 分类号: | A61B5/0515;G01R33/12;G06T17/00 |
代理公司: | 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576 | 代理人: | 郭文浩;尹文会 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于生物医学成像技术领域,具体涉及了一种基于多通道激励和检测的三维磁粒子成像系统及方法,旨在解决现有磁粒子成像技术成像速度慢,且电磁线圈发热导致成像精度低的问题。本发明包括:沿不同方向对磁粒子激励的多通道激励线圈组;在不同空间位置不同角度检测磁粒子的响应电压信号的多通道检测线圈组;为多通道激励线圈组供电的交流电源组;切换激励线圈组中的不同方向的激励线圈,对磁粒子进行不同方向的激励的通道控制单元;对多通道检测线圈组检测到的响应电压信号进行放大和滤波处理的信号调理单元;根据放大和滤波处理处理后的响应电压信号进行数字信号处理和三维磁粒子图像重建的图像重建单元。本发明磁粒子成像速度快、精度高。 | ||
搜索关键词: | 基于 通道 激励 检测 三维 粒子 成像 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院自动化研究所,未经中国科学院自动化研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110915066.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。