[发明专利]一种提高天线方向图零深位置测试精度的方法在审

专利信息
申请号: 202110916124.4 申请日: 2021-08-11
公开(公告)号: CN113777412A 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 胡正;郭利强;颜振;周杨;曹桂财;耿祖琨;米郁;陈安涛;张文涛;时建树 申请(专利权)人: 中电科思仪科技股份有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 代理人: 陈海滨
地址: 266555 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种提高天线方向图零深位置测试精度的方法,属于天线测试技术领域,根据零深附近方向图呈现近似对称分布的特点,将广义互相关时延估计的方法应用到零深估计,提高零深位置测试精度;具体包括选取有效数据段,对数据段进行判断并处理,选取零深估计粗值点,利用广义互相关时延估计计算互功率谱,补零操作,以及进行傅里叶反变换等计算零深的位置。本发明采用补零的方法,提高零深位置的角度分辨率;通过该计算方法对线性值取倒数,提高与零深距离近的值在时延估计中所占的比重,进一步提高时延估计精度。
搜索关键词: 一种 提高 天线方向图 位置 测试 精度 方法
【主权项】:
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