[发明专利]基于共有平场提取的高光谱显微图像平场校正方法及系统在审
| 申请号： | 202110930502.4 | 申请日： | 2021-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN113658069A | 公开（公告）日： | 2021-11-16 |
| 发明（设计）人： | 谷延锋;王煜坤 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T7/00 |
| 代理公司： | 哈尔滨华夏松花江知识产权代理有限公司 23213 | 代理人： | 时起磊 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 基于共有平场提取的高光谱显微图像平场校正方法及系统，涉及图像平场校正领域。本发明是为了解决目前还无法提取出共有的光照平场项用于校正高光谱显微系统中从而解决癌细胞组织高光谱显微图像存在的光照不均匀的问题，进而导致的癌细胞的组织病理分类精度较低的问题。所述方法包括：采集高光谱显微图像，并将图像分为训练集和测试集；对CFE模型训练获得训练好的CFE模型；对训练好的CFE模型进行求解得到共有平场和校正后的高光谱显微图像；利用测试集对共有平场进行评分，根据评分获得平场项的共有秩，获得最优CFE模型；将待测的高光谱显微图像输入到最优CFE模型中获得平场校正后的高光谱显微图像。本发明用于对癌细胞组织高光谱显微图像进行平场校正。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 共有 提取 光谱 显微 图像 校正 方法 系统 | ||
【主权项】：
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