[发明专利]产品缺陷识别方法、装置、电子设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 202110931172.0 申请日: 2021-08-13
公开(公告)号: CN113379745B 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 李勇军;黄雪峰;朱琦;蔡恩祥;杨超;杨光 申请(专利权)人: 深圳市信润富联数字科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481 代理人: 刘洁
地址: 518001 广东省深圳市罗湖区桂园街道老围*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种产品缺陷识别方法、装置、电子设备和存储介质。其中,方法包括通过设置在产品每个面外的红外传感器获取所述红外传感器照射产品时,每个照射点与相应的产品映射点之间的距离;判断所述每个照射点与相应的产品映射点之间的距离,和相邻照射点与相应的相邻产品映射点之间的距离的差值是否大于预设阈值;在所述差值大于所述预设阈值时,通过摄像头获取包含所述产品映射点的产品局部图像;利用预设识别模型对所述局部图像进行识别,确定所述局部图像所对应的产品缺陷。采用本发明提供的方案能准备定位缺陷位置,并根据缺陷位置采集局部图像进行识别,图像清晰,识别准确度高。
搜索关键词: 产品 缺陷 识别 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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