[发明专利]一种用于光谱分析的自动收敛光谱校正方法及装置

摘要

本发明涉及光谱分析基线校正领域，更具体的说，涉及一种用于光谱分析的自动收敛光谱校正方法及装置。本发明提供了一种用于光谱分析的自动收敛光谱校正方法，包括以下步骤：步骤S1、获取原始光谱y，并设置光滑参数λ；步骤S2、权重矩阵Wt进行初始化；步骤S3、根据惠特克算法，计算拟合光谱基线zt；步骤S4、判断是否满足截止条件，如果不满足截止条件，则进入步骤S5、如果满足截止条件，则进入步骤S6；步骤S5、计算更新权重矩阵Wt，进入步骤S3；步骤S6、输出光谱基线，根据光谱基线校正获得最终的光谱校正数据。本发明提高光谱基线拟合的有效性与稳定性，提高光谱数据分析与解读的可靠性。