[发明专利]一种基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统及方法在审
| 申请号： | 202110946420.9 | 申请日： | 2021-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN113466915A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 张苏雅拉吐;王德鑫;黄美容;白力嘎 | 申请（专利权）人： | 内蒙古民族大学 |
| 主分类号： | G01T1/02 | 分类号： | G01T1/02;G01T1/36 |
| 代理公司： | 北京盛询知识产权代理有限公司 11901 | 代理人： | 刘静 |
| 地址： | 028000 内蒙古自*** | 国省代码： | 内蒙古;15 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统，包括：测量单元、模拟单元、对比分析单元、数据处理单元；测量单元用于对辐射源的能谱进行能谱测量实验，获得辐射源的真实能谱；模拟单元用于对能谱测量实验进行蒙特卡洛模拟，获得辐射源的模拟能谱，模拟单元还基于参数优化后的蒙特卡洛模拟实验在不同能量下对辐射源进行模拟，获得辐射源的连续能谱；对比分析单元用于对比并分析真实能谱和模拟能谱，并对蒙特卡洛模拟实验进行参数优化；数据处理单元用于根据连续能谱进行能谱剂量转换，基于能谱剂量转换获得辐射剂量率。本发明能够通过对辐射源的能谱测量，并结合蒙特卡洛模拟技术准确的得到能谱‑剂量转换函数，进而获得辐射剂量率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 高纯 探测器 辐射 剂量率 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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