[发明专利]一种固态硬盘的高精密测试系统有效
| 申请号： | 202110957239.8 | 申请日： | 2021-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN113405755B | 公开（公告）日： | 2021-11-16 |
| 发明（设计）人： | 刘现亭;张喆 | 申请（专利权）人： | 深圳泰思特半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01M7/02 | 分类号： | G01M7/02;G01N17/00;G11C29/56;G11C29/50 |
| 代理公司： | 深圳市嘉宏博知识产权代理事务所 44273 | 代理人： | 孙强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种固态硬盘的高精密测试系统，包括操作台，所述操作台顶部固定安装有测试箱，所述测试箱顶部固定安装有温度测试机构，所述测试箱左侧固定安装有湿度测试机构，所述测试箱内底部固定安装有抗震测试机构，所述抗震测试机构的顶部固定安装有定位工装，所述定位工装的内部夹取有固态硬盘本体，所述测试箱的内部右侧上端固定安装有导电机构，所述导电机构下端端部与固态硬盘本体电性连接；本设备通过设置温度测试机构、抗震测试机构和湿度测试机构，可较为全面精确的对固态硬盘进行测试，同时设置安装机构，使得本设备安装与拆卸均较为方便，进而使得本装置实用性强，应用前景较为广泛，值得推广使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 固态 硬盘 精密 测试 系统 | ||
【主权项】：
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