[发明专利]一种双路白光干涉差动测量装置及方法有效
申请号: | 202110959032.4 | 申请日: | 2021-08-20 |
公开(公告)号: | CN113739708B | 公开(公告)日: | 2022-07-15 |
发明(设计)人: | 朱云龙;钱彦宇;卢旭;苑勇贵;党凡阳;林蹉富;张翔;祝海波;赵轩 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工程大学 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01B11/24;G01B9/02018 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 本发明公开了一种双路白光干涉差动测量装置及方法,包括宽谱光源模块、第一光程调制与解调模块和双路差动光强检测与记录模块;宽谱光源模块提供输入光信号;第一光程调制与解调模块接收输入光信号,利用白光干涉原理及双路差动探测原理,采用构建光程差的方法提供两路白光干涉信号并转换为电信号;双路差动光强检测与记录模块接收两路电信号,经差动探测后得到差动响应信号,根据差动响应信号得到绝对参考位置和测量位置。本发明定位精度高、灵敏度高、信号解调便捷,可广泛应用于微纳器件厚度及表面形貌等信息的定量测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 白光 干涉 差动 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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