[发明专利]应用测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110961538.9 | 申请日： | 2021-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN113419968B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 李昕彦 | 申请（专利权）人： | 北京达佳互联信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;贾允 |
| 地址： | 100085 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开关于一种应用测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括拦截待测试应用对应当前测试请求的目标响应数据，当前测试请求为对待测试应用对应的目标测试接口进行的目标数量个测试请求中的任意一次测试请求，目标数量等于目标篡改次数，目标篡改次数为基于目标响应数据中字段数量和多种异常测试类型对应的类型数量确定的；确定目标响应数据中任一未基于多种异常测试类型对应的预设篡改信息进行篡改过的当前字段数据；基于未用于对当前字段数据进行篡改过的目标篡改信息，对当前字段数据进行篡改，得到篡改响应数据；向待测试应用发送篡改响应数据，并获取测试结果。利用本公开实施例可以实现降低测试的操作复杂度，提升测试全面性和效率。 | ||
| 搜索关键词： | 应用 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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