[发明专利]用于监控机器学习模型的学习过程的显微镜系统和方法在审
| 申请号： | 202110966358.X | 申请日： | 2021-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN114202500A | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 曼努埃尔·阿姆托尔;丹尼尔·哈泽 | 申请（专利权）人： | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08;G06N20/00 |
| 代理公司： | 上海雍灏知识产权代理事务所(普通合伙) 31368 | 代理人： | 沈汶波 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 描述了一种用于监控机器学习模型的学习过程的显微镜系统和方法。该显微系统包括具有用于捕获显微图像(4)的相机(82)的显微镜(80)和计算设备(85)。计算设备(85)通过机器学习模型(M)处理显微镜图像(4)。机器学习模型(M)的学习过程是通过训练系统(90)执行的。在学习过程中，使用训练数据(T)调整机器学习模型(M)的模型参数值(P1‑P9)。在学习过程中，分别针对当前模型参数值(P1‑P9)计算基于训练数据(T)的质量度量(Q1)和基于验证数据(V)的质量度量(Q2)。训练学习进展(1)和验证学习进展(2)根据质量度量(Q1,Q2)形成。训练系统(90)包括验证模型(10)，该模型在学习过程中被输入训练学习进展(1)和学习过程中的验证学习进展(2)。验证模型(10)被设计为根据训练学习进展(1)和验证学习进展(2)生成学习过程的质量评估(17)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 监控 机器 学习 模型 过程 显微镜 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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